BS IEC 62528-2007 嵌入式基于芯片的集成电路的标准可试性方法

作者:标准资料网 时间:2024-04-28 07:00:39  浏览:8010   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Standardtestabilitymethodforembeddedcore-basedintegratedcircuits
【原文标准名称】:嵌入式基于芯片的集成电路的标准可试性方法
【标准号】:BSIEC62528-2007
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2007-12-31
【实施或试行日期】:2007-12-31
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:自动化;计算机硬件;芯;数据处理;数据记录;定义;数字的;电子工程;电子设备及元件;集成电路;网际协议;印制电路;可重复使用;开关电路;测试;包装材料
【英文主题词】:Automation;Computerhardware;Cores;Dataprocessing;Datarecords;Definition;Definitions;Digital;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;IP;Printedcircuits;Re-usable;Switchingcircuits;Testing;Wrappers
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:126P;A4
【正文语种】:英语