DIN 50432-1980 无机半导体材料的检验.通过整流试验或热探针法测定硅和锗的异电类型
作者:标准资料网 时间:2024-05-28 05:27:53 浏览:8236
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【英文标准名称】:Testingofsemi-conductinginorganicmaterials;determinationoftheconductivitytypeofsiliconorgermaniumbymeansofrectificationtestorhot-probe
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.通过整流试验或热探针法测定硅和锗的异电类型
【标准号】:DIN50432-1980
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1980-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;试验;半导体;定义
【英文主题词】:testing;semiconductors;measurement;definitions
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:1660
【页数】:13P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.通过整流试验或热探针法测定硅和锗的异电类型
【标准号】:DIN50432-1980
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1980-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;试验;半导体;定义
【英文主题词】:testing;semiconductors;measurement;definitions
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:1660
【页数】:13P;A4
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