JIS R2653-1983 可铸轻质耐火材料抗碎强度和断裂模数的试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-08 19:25:21 浏览:8151
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【英文标准名称】:Methodoftestforcrushingstrengthandmodulusofruptureoflightweightcastablerefractories
【原文标准名称】:可铸轻质耐火材料抗碎强度和断裂模数的试验方法
【标准号】:JISR2653-1983
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1983-03-01
【实施或试行日期】:1983-03-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Ceramics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:破碎试验;耐熔材料;挠折模量;试验;轻集料;铸件;压缩试验;耐火烧结材料
【英文主题词】:castings;refractorymaterials;refractories;;testing;modulusofrupture;crushingtests;compressiontesting
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q45
【国际标准分类号】:
【页数】:2P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:Identificationcards-Contactlessintegratedcircuit(s)cards-Proximitycards-Part4:Transmissionprotocol;Amendment1:Handlingofreservedfieldsandvalues
【原文标准名称】:识别卡.无接触点集成电路卡.近程卡.第4部分:传输协议.修改件1:保留域和值的操作
【标准号】:ISO/IEC14443-4AMD1-2006
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2006-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/IECJTC1/SC17
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:比特率;遥控的;数据处理;识别卡;集成电路;机读资料;存储;印制电路插件;传输协议
【英文主题词】:Bitrates;Contactless;Dataprocessing;Identitycards;Integratedcircuits;Machine-readablematerials;Memory;Printed-circuitcards;Transmissionprotocol
【摘要】:ThisisAmendment1toISO/IEC14443-4-2001(Identificationcards—Contactlessintegratedcircuit(s)cards—Proximitycards—Part4:TransmissionprotocolAMENDMENT1:Handlingofreservedfieldsandvalues)
【中国标准分类号】:L64
【国际标准分类号】:35_240_15
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Discretesemiconductordevices-Sectionalspecification
【原文标准名称】:电子器元件质量评估协调体系.分立半导体器件.分规范
【标准号】:BSQC750100-1986
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1986-12-31
【实施或试行日期】:1986-12-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:规范(验收);电气试验;统计质量控制;详细规范;质量保证体系;色码;半导体器件;电子设备及元件;认可试验;接线端;检验;检验;评估的质量;电学测量;半导体;质量管理;资格鉴定;识别方法
【英文主题词】:Components;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuits;Marking;Measurement;Methodsformeasuring;Quality;Qualityassessment;Qualityassessmentsystems;Sectionalspecification;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Specifications;Testing
【摘要】:Procedurestobefollowedwithdiscretesemiconductordevices(excludingoptoelectronicdevices),thepossiblegroupconditionsforstructurallysimilardevices,therequirementsforqualityconformanceinspectionandthevariousstepsforscreening.Alsopreferredvaluesofvoltagesandcurrents,identificationofterminals.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:20P.;A4
【正文语种】:英语
